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详细信息
粉体电导率测试仪四探针粉末电阻测试仪
选择适合导电粉末的电阻率测试仪需结合材料特性、测试精度及设备功能,以下是关键选择要点:
粉体电导率测试仪四探针粉末电阻测试仪- 测试方法适配性
四探针法
适用于高精度测量,通过四根等间距探针消除接触电阻误差,尤其适合薄层或压片导电粉末(如石墨烯、金属粉)。
需确保探针材料为铂或金,以提升稳定性和导电性。
二电极法
操作简单,适合块状或厚层样品,但需通过高压()压制粉末以减少接触电阻影响。
- 核心性能要求
测量范围与精度
导电粉末电阻率通常较低(如10^-6~103Ω·cm),需选择量程覆盖此范围且精度≤0.3%的仪器。
电导率计算需支持自动转换(σ=1/ρ)
环境控制
温湿度补偿功能(如23±2℃、50±5%RH)可减少环境干扰。
- 样品处理与设备功能
粉末压片配套
需搭配压片机将粉末压制成标准试样(直径15mm),确保密度和厚度一致性。
压力控制精度需达±0.05MPa,避免孔隙率影响结果。
自动化与数据管理
优选支持自动加载、实时数据记录及曲线绘制的设备。
四、典型应用场景
电池材料:如锂电正极粉末,需同步测试电阻率-压实密度关系。
金属粉末:需高电流(如300A)测试以模拟实际导电路径。
粉末类型:
导电粉末(如金属粉)需加压电极形成通路
;绝缘粉末(如陶瓷粉)需高阻计测量。
测试步骤(以四探针法为例)
放置样品
将粉末或压片样品放入测试模具中,置于仪器样品台,确保探针垂直接触样品表面。
参数设置
选择测试电流:高电阻率样品用小电流(如1088μA),低电阻率样品用较大电流。
设置温度补偿(若需):转换温度范围通常为1-50℃。
测量操作
启动加压装置,施加额定压力(如液压动力)并稳定。
按下电流开关,调节电压量程至显示电阻率值,记录正反两次测量结果取平均值。
注意事项
样品因素
粉末均匀性、压制压力(如100Pa)及环境温湿度(建议23±2℃、50±5%RH)会影响结果。
仪器维护
测试后清洁电极和模具,避免残留粉末影响下次测量。
定期校准,避免探针磨损或接触不良。
基础原理
欧姆定律法
通过向粉末样品两端施加稳定电压
U,测量通过样品的电流
I,根据公式
R=U/I 计算电阻
R。该方法适用于简单电阻测量,但易受接触电阻影响。
四探针法
电极配置:四根等间距探针接触样品,外侧两根通入恒定电流
I,内侧两根测量电压降
U,通过公式
R=(U/I)×k 计算电阻,其中
k 为几何修正因子。
优势:消除接触电阻干扰,电流分布更均匀,适用于粉末压片或松散样品的电阻率测量。
参数:1.电阻resistance 10-7~2×107Ω 2.电阻率范围Resistivity 10-7~2×107Ω-cm 3.电导率Conductivity 5×10-7~107s/cm 4.测试电流范围 current 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA 5.测量电压量程Voltage 测量电压量程 voltage:2mV 20mV 200mV 2V
测量精度Accuracy±(0.1%读数)
分辨率 Resolution: 0.1uV 1uV 10uV 100uV6.电流精度Current ±0.1%Accuracy 7.电阻精度Resistance Accuracy ≤0.3%标准电阻resistance 8.显示读数display 液晶显示:电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度,上下限警报
LCD: resistance, resistivity, conductivity, temperature, pressure value, the unit automatically conversion, cross-section,, and upper limit alarm9.测试方式Test mode 四端测量法Four-terminal measurement method 10.传感器压力Pressure Sensors 200kg;(其他规格可以定制)
(Other specifications can be customized)11.粉末测量装置
Powder measuring device模具Mold:内径inner diameter 10mm; 20mm(选购), height: 25mm,
加压方式:手动液压加压测量 pressure: manual hydraulic pressure / automatic compression mode (purchase).12.工作电源power supply 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗Power consumption:<30W 13.外形尺寸/dimensions 主机Mainframe:约L330mm*D350mm*H120mm ;手动装置about:约H450mm*L200mm*D120mm 14.净重量/Net Weight 约35kg
About 35kg
步骤及流程
1.运行高度清零.
2.将称重样品装入模腔.
3.固定上电极旋钮.
4.在显示器上设置好参数.
5.达到设定压力或压强值.
6.读取样品压缩高度数据并输入.
7.获得电阻、电阻率、电导率数据.
8.记录数据.
9. 样品脱模
7. 测试结束.
典型应用场景
锂电池材料:如石墨烯、磷酸铁锂的电阻率检测;
半导体粉末:硅粉、碳纳米管的电导率分析;
科研与质检:高校、实验室及企业研发部门的质量评估。
优点描述:
性价比机型.数据稳定.
可读取粉末高度数据.
可选购PC软件.
电阻率测量系统.
配置粉体废料收集盘.
操作简单. 自动计算出所需数据.
获得压实后电阻、电阻率、电导率、高度、直径、压强等数据.
除接触电阻与导线电阻干扰
电流-电压探针分离:外侧两探针注入电流,内侧两探针测量电压,因电压探针输入阻抗极高,流经电流极小,接触电阻产生的压降可忽略不计。
独立测量回路:电压测量仅依赖探针间电势差,与导线电阻无关,避免传统两探针法中串联电阻导致的误差。
特殊场景优势
薄层材料:通过修正系数(如4.532)简化超薄样品(如半导体圆片)的电阻率计算。
不均匀性分析:可沿样品径向测量断面电阻率,观察电阻率分布差异。
综上,四探针法通过分离电流与电压回路、优化探针布局,实现了高精度、高适应性的电阻测量,成为半导体、电池材料等领域的主流方法。
四探针法测量电阻的精度受多种因素影响,但总体而言其精度显著高于传统两探针法,具体表现如下:
一、理论精度优势
消除接触电阻干扰:通过分离电流与电压测量回路,电压探针的高输入阻抗(>1000MΩ)使接触电阻产生的压降可忽略,误差主要来自探针间距的几何修正系数(如直线排列时C≈6.28±0.05 cm)。
仪器参数支持:典型设备(如ST2742B型)的电流调节精度达±0.1%,电压分辨力为10μV,电阻率测量范围覆盖10~10Ω·cm,满足宽量程需求。
二、实际测量中的精度表现
常规条件:在样品均匀、探针间距稳定的情况下,误差可控制在±1%以内(如极片电阻测试中四探针法COV值显著低于单探针法)。
特殊场景:
高阻材料:半导体薄膜测量时,温差电动势或环境湿度可能引入偏差,需通过屏蔽导线和温控优化。
薄层样品:厚度小于探针间距时需修正系数,否则误差增大(如硅片测试中可能破坏样品表面)。
三、对比其他方法的精度差异
vs两探针法:四探针法因消除导线电阻和接触电阻影响,精度提升约1个数量级,尤其适用于高阻薄膜(如石墨烯)。
vs万用表法:万用表受限于电流源稳定性,低阻测量时易饱和,而四探针法通过恒流源(如100mA档)可稳定测量低至10 Ω·cm的电阻率。
四、提升精度的关键措施
样品制备:确保表面平整、无污染,粉末样品需压实至密度均匀。
探针控制:保持探针间距恒定(通常0.5~1.5mm),压力适中避免划痕。
环境校准:定期用标准电阻校准仪器,避免温湿度波动影响。
综上,四探针法在理想条件下可实现±0.1%的仪器级精度,实际应用中需结合样品特性和操作规范综合评估
公司承诺:
1.购机前,我们专门派技术人员为您设计的流程和方案
2.购机后,将免费指派技术人员为您调试安装
3.整机保修一年,产品终身维护
4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用
5、售后管理:我公司实现计算机化管理,实行客户定期电话回访制度,定期复查设备的工作情况,定期电话指导用户对设备进行保养和检测,以便设备正常运转,跟踪客户的设备使用情况,以便及时对设备进行维护
6、物流情况:及时提供货源,确保全国范围内2-10内到货,持续稳定地为代理商做全面服务工作,提供合理的运作空间。公司有 的技术人员为您安装指导。
7、软件升级:终生免费提供新版本控制软件。
8、安装培训:仪器包装内附有说明书, 培训人员为客户指定操作者讲解仪器正常操作流程、操作注意事项及仪器的日常维护要求;也可以根据客户要求提供上门培训服务。




